高頻阻抗損耗測(cè)試方案
傳統(tǒng)TDR阻抗測(cè)試方案
Intel Delta-L 4.0測(cè)試方案
50GHz高速覆銅板測(cè)試方案
BT&WIFI認(rèn)證自動(dòng)化測(cè)試方案
光通訊測(cè)試方案
10G Base-T測(cè)試方案
測(cè)量型金相顯微鏡是一種兼顧影像、目視與納米高度測(cè)量多用的高精度、高效率測(cè)量?jī)x器。該產(chǎn)品具有電視成像與目視光學(xué)兩套瞄準(zhǔn)系統(tǒng),可人工觀察金屬表面的金相組織結(jié)構(gòu),是集光、機(jī)、電、算、影像于一體的顯微鏡。該產(chǎn)品以二維測(cè)量為主,也可作三維輔助測(cè)量,廣泛應(yīng)用于電子組件、精密模具、塑料、PCB加工方面、鍍膜厚度、手機(jī)玻璃等工業(yè)領(lǐng)域。
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